1.基本原理电子探针的电子发射出电子，经加速电压加速、电磁透镜聚焦，形成直径小于1μm的电子束，轰击样品待分析微区，在几个立方微米的范围产生特征X射线、连续X射线、二次电子、背散射电子、阴极荧光等信号，将激发的...
电子探针的简单原理（1）电子光学系统。电子束直径0.1——1μm，电子束穿透深度1——3μm。被激发原子发射特征X射线谱过程如下：围绕原子核运动的内层电子，被电子束的电子轰击后，其他外层电子为补充轰击出的电子而发生跃...
电子探针分析的原理是：以动能为10～30千电子伏的细聚焦电子束轰击试样表面，击出表面组成元素的原子内层电子，使原子电离，此时外层电子迅速填补空位而释放能量，从而产生特征X射线。用波长色散谱仪（或能量色散谱仪）和检测计...
电子探针（ElectronProbeMicroanalysis-EPMA）的主要功能是进行微区成分分析。它是在电子光学和X射线光谱学原理的基础上发展起来的一种高效率分析仪器。其原理是：用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征X射线，分析...
电子探针是通过向样品表面发射电子，利用电子和样品的相互作用来探测样品性质的一种表面分析技术。它可以提供高空间分辨率和高灵敏度的表面形貌、组成和电子结构等信息。而二探针和四探针则是两种电学性质测量方法。二探针法是...
而将被测样品与标准样品中元素Y的衍射强度进行对比，就能进行电子探针的定量分析。当然利用电子束激发的X射线进行元素分析，其前提是入射电子束的能量必须大于某元素原子的内层电子临界电离激发能。
回电子探针X射线显微分析仪(X-RayElectronProbeMicroanalyzer,EPMA)1.1概述1.2EPMA基本原理1.3仪器基本结构1.4定性定量分析方法1.5样品制备1.6定量分析的步骤及注意事项1.1EPMA概述•电子探针X射线显微分析仪(ElectronprobeX-...
电子探针又称微区X射线光谱分析仪、X射线显微分析仪。其原理是利用聚焦的高能电子束轰击固体表面，使被轰击的元素激发出特征X射线，按其波长及强度对固体表面微区进行定性及定量化学分析。主要用来分析固体物质表面的细小颗粒或...
1、原理不同：原子探针是利用原子束与样品表面相互作用产生的散射信号来分析样品的表面结构和成分，而电子探针则是利用电子束与样品表面相互作用产生的散射信号来分析样品的表面结构和成分。2、分析范围不同：原子探针主要用于...
电子探针——X射线能谱仪的应用：(1)定点成分分析：电子束固定在钢铁需要分析的微区上，能谱仪收集X射线信号，几分钟内即可直接得到微区内全部元素的谱线。(2)成分线分布分析：将谱仪固定在钢铁材料所要测量的某一元素...
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